X射线衍射仪（XRD） X射线掠射（GI-XRD） X射线单晶衍射（SC-XRD） X射线散射（SAXS） 二维广角XRD（2D-WAXD） 变温X射线多晶衍射（变温XRD） 微区XRD 电化学原位XRD X射线光电子能谱（XPS） 原位X射线光电子能谱（原位XPS） XPS深度剖析 紫外光电子能谱（UPS） 俄歇电子能谱（AES） X射线荧光光谱（XRF） 电感耦合等离子体光谱质谱（ICP-MS, ICP-OES, ICP-AES） 离子色谱（IC） 总有机碳（TOC） 无机碳硫测试 有机元素分析仪（EA） 无机氧氮氢测试 凯氏定氮仪 氨基酸含量测试 工业分析测试 卡尔费休水分测定仪 电子舌 电子鼻 同位素质谱仪 土壤肥力检测

场发射扫描电镜（SEM） 场发射扫描电镜（SEM）-视频连线 透射电镜测试（TEM）-粉末和液体 透射电镜测试（TEM）-生物类样品 FIB制样+TEM拍摄 离子减薄制样+TEM拍摄 电解双喷制样+TEM拍摄 透射电镜测试（TEM）-视频连线 电解双喷/离子减薄制样 聚焦离子束（FIB）制样 包埋超薄切片制样 原子力显微镜（AFM） 原子力显微镜（AFM）-视频连线 电子背散射衍射（EBSD） 电子背散射衍射（EBSD）-视频连线 电子探针（EPMA） 电子探针（EPMA）-视频连线 激光共聚焦显微镜 金相显微镜 偏光显微镜 超景深三维显微镜 三维轮廓仪 白光干涉仪

傅里叶红外光谱（FT-IR，ATR） 原位傅里叶变换红外光谱（原位FT-IR） 吡啶红外（Py-IR） 紫外可见近红外漫反射光谱（UV-VIS NIR） 拉曼光谱（Raman） 拉曼mapping 高低温拉曼光谱（高温Roman） 原位电化学拉曼光谱 稳态荧光光谱（PL）/荧光寿命/量子产率 变温荧光光谱（变温PL）/变温荧光寿命 飞秒瞬态吸收（fs-TAS） 三维荧光测试（3D-EEM） 液体核磁（NMR） 高温液体核磁（高温NMR） 固体核磁（NMR） 低场核磁测试 常温电子顺磁/自旋共振/空穴（常温EPR/ESR/空穴） 高低温电子顺磁/自旋共振/空穴（高低温EPR/ESR/空穴） 高效液相色谱（HPLC） 液质联用（LC-MS） 气相色谱（GC） 气质联用（GC-MS） 热裂解气质联用（PY-GC-MS） 普通质谱，高分辨质谱，MALDI（MS，HRMS，MALDI） 分子量分布凝胶渗透色谱-常温高温（常温高温GPC）

比表面积及孔径分析（BET） 高性能全自动压汞仪（MIP） 化学吸附（TPD TPR TPO） 接触角 液体ZETA电位/粒径分析 固体表面ZETA电位 流变仪 真密度测试 振实密度测试 摩擦磨损试验 椭偏仪（椭圆偏振） 台阶仪 折射率 维氏/洛氏/布氏硬度 旋转粘度/乌氏粘度 拉伸/压缩/弯曲/电子万能试验机 纳米压痕 纳米划痕/微米划痕 残余应力测试

热重分析（TG DTA） 热重差热联用分析(TG-DSC) 差热分析 比热容测试（DSC） 热重红外联用（TG-IR） 热重质谱联用（TG-MS） 热重红外质谱联用（TG-IR-MS） 动态热机械分析仪（DMA） 静态热机械分析仪（TMA）/热膨胀系数 锥形量热测试 水泥水化热测试

磁滞回线测试（VSM） 介电性能测试 矢量网络（VNA） 霍尔效应（HALL） 电化学测试 四探针电阻率测试 铁电分析仪 表面光电压测试 压电性能测试 赛贝克系数测试（Seebeck） 透光率和雾度测试 红外发射率/反射率/漫反射测试

盐雾试验 氧乙炔烧蚀 老化试验

CT测试（显微/Micro/Nano/工业CT）

单原子mapping双球差透射电镜

穆斯堡尔谱

同步辐射吸收谱（XAFS）-硬X射线 同步辐射吸收谱（XAFS）-软X射线 同步辐射吸收谱（XAFS）-高能机时

三维原子探针(3D APT)

正电子湮灭

二次离子飞行时间质谱仪（TOF-SIMS） 飞行时间质谱（MALDI-TOF）

失效分析

配方破解配方升级

原子电荷

分之间相互作用

相互作用分析

脊椎有限元分析

热熔计算

发光二极管仿真

材料设计